HEM-200 高低溫霍爾效應測試系統 參考價：555
系統組成：HEM-200 高低溫霍爾效應測試系統本儀器系統由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、矩陣卡、霍爾效應樣品支架、標準樣品、系統軟件組成。本...
HEM-500HA高低溫電磁型 參考價：555
HEM-500HA高低溫電磁型全自動霍爾效應測試系統本儀器系統由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，...
非標探針臺/微型/光電流測試顯微鏡 參考價：9999
非標探針臺/微型探針臺/倒裝手動測試夾具/光電流測試顯微鏡/TEC制冷卡盤/磁場探針臺(無磁設計)/110g以上高頻測試探針臺/自動測試系統/可升降平臺/高精度...
探針臺配件/屏蔽箱/防震系統/轉接頭/轉接線 參考價：9999
探針臺配件/屏蔽箱/防震系統/轉接頭/轉接線
探針臺配件/ 12C有源探頭探針座/探針 參考價：9999
探針臺配件/ 12C有源探頭探針座/GGB 12C有源探頭/開爾文探針座/美國APT開爾文探針
探針臺配件/射頻探針座/探針 參考價：9999
探針臺配件/射頻探針座/射頻探針
探針臺配件/直流探針座 參考價：9999
探針臺配件/直流探針座/直流夾具/直流探針
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺 參考價：9999
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。...
JKZC-UC系列高低溫探針臺 參考價：9999
JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面...
JKZC-DSH系列雙面探針臺 參考價：9999
JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對...
JKZC-DM系列基礎型探針臺 參考價：9999
JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高性價比。在高等院校教學和小型實驗...
SCD-1500型半導體C-V特性分析儀 參考價：1200
SCD-1500型半導體C-V特性分析儀創新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術...
WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機 參考價：9999
WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機是一款應用于PMMA、PC、PP、COP、COC、BOPET、CBC、樹脂（部分）、聚乙烯（部分）等硬質塑料芯片的鍵合，...
JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率儀（三環電極法） 參考價：9999
JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試儀是一款針專門用于絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試裝置，采用環形三電極測試可以勝任于防靜電產品(防靜電鞋、...
JWDL-1型金屬電阻率測試儀（銅，導電薄膜） 參考價：9999
JWDL-1型金屬電阻率測試儀是一款針對于不同金屬材料電阻測試的專業設備，不管是銅金屬材料，導電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃...
DRJS-2型電容器金屬化膜測試儀（平行刀法） 參考價：9999
DRJS-2型電容器金屬化膜測試儀是一款專門應用于電容器薄膜測試的設備， PET薄膜上金屬化膜，真空鍍膜和噴鍍工藝形成，金屬膜厚度極薄，附著力差，容易脫落。 薄...
WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置 參考價：面議
晶圓是指硅半導體集成電路制作所用的硅晶片，其形狀為圓形；晶圓高溫測試是集成電路行業一道重要制程，通過嚴格的高溫測試可以預先剔除不良芯片，降低后續高昂的封裝成本。...
全自動型高低溫真空探針臺 參考價：面議
GDWT-480型全自動型高低溫真空探針臺主要應用于I-V/C-V，PIV測試,傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 產品供應北京、上海、杭州等全國各...
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